Метод Лауэ

В методе Лауэ используется одиночный кристалл, который остается неподвижным. Фотографическая пластинка или плоская пленка, заключенная в светонепроницаемый конверт, помещается на известном расстоянии (обычно 5 см) от кристалла. Луч белого рентгеновского излучения проходит через кристалл под прямым углом к фотопластинке. Прямой луч вызывает почернение в центре фотографии, поэтому для перекрывания и поглощения его в центре фотографии, перед пленкой, обычно помещается маленький свинцовый диск. Угол падения 0 между рентгеновским лучом и различными атомными плоскостями в кристалле с его межплоскостными расстояниями (d) фиксирован. Однако поскольку в белом излучении присутствует большой набор длин волн, закон Брэгга — nλ = 2d sin θ — может быть удовлетворен любым семейством атомных плоскостей при условии, что (2d sin θ)/n находится в этой области длин волн. Вокруг центрального пятна на лауэграмме располагаются дифракционные пятна, каждое из которых является результатом дифракции от некоторой заданной серии атомных плоскостей (рис. 3.8).

Метод Лауэ, хотя и представляет большой исторический интерес, в значительной степени заменен другими, более мощными методами рентгеновского анализа кристаллов. В основном он используется сегодня для определения симметрии. Если кристалл ориентирован так, что рентгеновский луч параллелен элементу симметрии, то расположение пятен на фотографии выявляет эту симметрию. Лауэграмма минерала, сделанная с рентгеновским лучом, параллельным 2-ной оси моноклинного кристалла, будет показывать расположение пятен вокруг двойной оси; если луч параллелен плоскости симметрии, то фотография покажет линию симметрии. Фотография ромбического кристалла (симметрия 2/m 2/m2/m) с лучом, параллельным кристаллографическим осям, выявляет как расположение двойной оси, так и двух плоскостей симметрии. На рис. 3.9 показана 4-ная симметрия пятен, полученных от везувиана, когда рентгеновский луч параллелен 4-ной оси вращения.

К сожалению, рентгеновские лучи не различают противоположные концы полярной оси, и, таким образом, дифракционные эффекты всегда включают центр симметрии.